エレクトロニクス実装学会誌19巻7号の掲載記事が「日経テクノロジーオンライン」で紹介されました。

光切断法を用いた傾き，たわみ，3次元寸法検査技術と将来展望
(Vol.19 No.7 特集「官能検査システム化の最新技術とIoT時代への展望」解説記事)

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